报告题目：基于条纹反射的光学面形检测
报告时间：2016年6月7日14:30-16:00
报告地点：基础教学楼A303
主 讲 人：赵文川副研究员
2010年毕业于四川大学电子信息学院，获光学工程博士学位，师从苏显渝教授。毕业后一直在中科院光电技术研究所先进光学研制中心潜心于光学加工检测的研究工作，积累了丰富的技术和市场经验。2015年受科学院资助到亚利桑那光学中心访问交流一年。
2007年参与发起和筹建了四川大学SPIE Students Chapter，并担任该分会的第一届主席。
报告内容：随着科技的不断发展，人们对光学元件的面系统性能要求越来越高，不仅要求校正常见的像差还要能够校正非共轴系统的离轴像差，同时还要求系统小型化。由球面或非球面构成的传统共轴光学系统，已逐渐无法满足。在这样的情况下，非球面及自由曲面元件应运而生。光学加工精度受到相应的检测精度的限制。尤其是对于非球面及自由曲面，其相对于平球面存在着较大的偏离量，远远超过了干涉仪的检测动态范围，造成检测困难。条纹反射技术具有动态范围大，灵敏度高的特点，本报告介绍将其应用于光学元件面形检测的部分研究进展。
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